通信用光電子器件抗潮濕循環(huán)試驗
試驗范圍
1、有源器件:有源器件包括光源、光檢測器和光放大器,這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件,和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件:光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件抗潮濕循環(huán)試驗
試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 20853-2007 金屬和合金的腐蝕 人造大氣中的腐蝕 暴露于間歇噴灑鹽溶液和潮濕循環(huán)受控條件下的加速腐蝕試驗
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的抗潮濕循環(huán)試驗服務(wù)。
通信用光電子器件抗潮濕循環(huán)試驗
試驗背景
溫濕度循環(huán)試驗是為產(chǎn)品提供一種溫濕度組合試驗方法,主要用于元器件類試驗樣品,以試驗加速來確定試驗樣品在高溫、高濕和低溫條件下所能承受的耐受性能,也是目前電子產(chǎn)品常作的可靠性試驗項目之一。
通信用光電子器件抗潮濕循環(huán)試驗可采用溫度和濕度循環(huán)來提供一個凝露和干燥的交替過程,使腐蝕過程加速,并使密封不良的縫隙“呼吸”進(jìn)濕氣。即以加速方式評估光電子器件在高溫和高濕條件下,抗退化效應(yīng)的能力。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的抗潮濕循環(huán)試驗服務(wù)。
通信用光電子器件抗潮濕循環(huán)試驗
試驗方法
按以下程序進(jìn)行試驗:
a)試驗前對試樣的主要光電特性進(jìn)行測試。
b)將試樣放置在試驗箱內(nèi),應(yīng)使其充分暴露在試驗環(huán)境中。按規(guī)定的條件對試樣進(jìn)行試驗。
c)完成規(guī)定的循環(huán)次數(shù)之前(不包括最后一次循環(huán)),如發(fā)生了不多于1次的意外的中斷試驗(如電源中斷或設(shè)備故障),可重復(fù)一次循環(huán),試驗繼續(xù)進(jìn)行;若在最后一次循環(huán)期間出現(xiàn)意外中斷,除要求重做該循環(huán)外,還要求再進(jìn)行一次無中斷的循環(huán);任何中斷時間超過24 h,都需要重新進(jìn)行試驗。在10次循環(huán)中,至少有5次進(jìn)行低溫子循環(huán)。在低溫子循環(huán)期間,試樣應(yīng)在-10 ℃和不控制濕度的條件下,至少保持3 h。
d)在低溫子循環(huán)后,將試樣恢復(fù)到25℃,相對濕度至少為80%,并一直保持到下一個循環(huán)的開始。