1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復用器/解復用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關、光濾波器、光衰減器等。

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求

電子元器件封裝密封的可靠性直接影響產(chǎn)品的性能，輕則使器件性能劣化，重則對內(nèi)部結(jié)構產(chǎn)生腐蝕，致使電子元器件失效。電子元器件當處在某一壓力條件下時，都會出現(xiàn)一定的泄漏。因此，密封泄漏是一個相對概念。通常以電子元器件的漏氣速率大小來衡量其密封性能的好壞，漏氣速率越低，表明其密封性能相對越好。
通信用光電子器件密封性試驗可確定具有內(nèi)空腔的光電子器件密封封裝的氣密性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業(yè)的密封性試驗服務。

1、檢測
先進行細檢漏，后進行粗檢漏。若按細檢漏條件或粗檢漏條件進行批次試驗（即在檢漏儀中每次放置一個以上的試樣）時，只要出現(xiàn)失效情況﹐就應認為該批失效。
2、失效判據(jù)
完成試驗后，試樣出現(xiàn)下列情況之一判為失效：
a）細檢漏程序：不滿足試樣封裝內(nèi)腔體積規(guī)定的相應失效極限值。
b）粗檢漏程序：從同一位置出來的一串明顯氣泡或兩個以上大氣泡。