首先應(yīng)用肉眼檢查樣品，若有必要可用立體顯微鏡放大50倍左右進行檢查。應(yīng)按下述等級評定和描述長霉程度：
等級：
—0    在放大50倍下，沒有發(fā)現(xiàn)明顯長霉；顯微鏡下看到長霉痕跡；
—1    顯微鏡下看到長霉痕跡；
—2a  肉眼看到稀疏長霉或者顯微鏡下看到分散、局部長霉，長霉面積不超過試驗面積的5%；
—2b  肉眼明顯看到很多地方或多或少均勻長霉，長霉面積不超過試驗面積的25%；
—3    肉眼明顯看到長霉，長霉面積超過了試驗面積的25%。
注：當試樣由不同等級的零部件組成時，宜分別對它們進行評定。對于試驗方法⒉，只要求檢查抑制真菌生長效力時，才規(guī)定0等級。

長霉試驗就是檢測產(chǎn)品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生長的條件下（即高濕溫暖的環(huán)境中和有無機鹽存在的條件下），設(shè)備是否受到霉菌的有害影響。在一定的氣候和環(huán)境條件下﹐微生物可在電工電子設(shè)備表面附著并大量繁殖。這些微生物或它們的代謝產(chǎn)物不僅可損壞設(shè)備本身，還可影響設(shè)備的可操作性和使用可靠性。
微生物對設(shè)備的作用形式受到兩種不同過程的影響：直接作用即劣化的材料作為微生物生長的一種營養(yǎng)物質(zhì)，以及間接作用即微生物的代謝產(chǎn)物引起（設(shè)備材料和/或功能的)劣化。
長霉試驗可確定電工電子產(chǎn)品上長霉程度和長霉對產(chǎn)品性能及其他相關(guān)特性影響。健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子設(shè)備長霉試驗?zāi)芰?，為氣象儀器、軍用裝備、光學和光子學儀器等電工電子設(shè)備提供專業(yè)的長霉試驗服務(wù)。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子設(shè)備長霉試驗?zāi)芰Γ瑸闅庀髢x器、軍用裝備、光學和光子學儀器等電工電子設(shè)備提供專業(yè)的長霉試驗服務(wù)。

GB/T 2423.16-2022 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長霉
IEC 60068-2-10：2018 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長霉
JB/T 5750-2014  氣象儀器防鹽霧、防潮濕、防霉菌 工藝技術(shù)要求
GJB150.10A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第10部分：霉菌試驗
CB 1146.9-1996 艦船設(shè)備環(huán)境試驗與工程導則 霉菌
GB/T 12085.11-2022  光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第11部分：長霉
GB/T 32065.9-2019 海洋儀器環(huán)境試驗方法 第9部分：長霉試驗
HB 6167.11-2014 民用飛機機載設(shè)備環(huán)境條件和試驗方法 第11部分：霉菌試驗
DZ 0039.14-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗條件及方法 長霉試驗

試驗方法1
經(jīng)過28d培養(yǎng)以后，確定：
—外觀檢查確定霉菌生長程度；
—長霉引起的物理損傷；
—長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求。
如果相關(guān)規(guī)范要求檢查功能和/或測量電性能，培養(yǎng)期應(yīng)延長至56 d。
試驗方法2
用營養(yǎng)液對樣品預(yù)處理后，進行為期28 d的培養(yǎng)，確定：
—外觀檢查確定霉菌生長程度；
—長霉引起的物理損傷；
—長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關(guān)規(guī)范中有要求。
通過使用營養(yǎng)液來模擬污染未長霉的樣品，會降低樣品表面的防霉性能。如果檢查功能和/或測量電氣性能，宜考慮該影響。
使用營養(yǎng)液就會發(fā)生長霉，如果沒有長霉，宜考慮防霉劑的影響。