地質(zhì)儀器高溫高壓試驗(yàn)
健明迪檢測(cè)提供的地質(zhì)儀器高溫高壓試驗(yàn)，試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) DZ0039.1-1992地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法總則 DZ0039.11-1992地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法高溫/高壓綜合試驗(yàn) G，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
DZ 0039.1-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 總則
DZ 0039.11-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 高溫/高壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
IEC68-2-41基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)B-高溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
DZ 0039.11-1992 地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法 高溫/高壓綜合試驗(yàn)
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合
GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度（低溫、高溫）低氣壓振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
IEC68-2-41基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)B-高溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
試驗(yàn)背景
由于材料或工藝存在瑕疵或由于操作人員誤操作，濕度和溫度等原因，在電器設(shè)備內(nèi)部留下潛伏性的缺陷，如將原有的缺陷設(shè)備投入電力系統(tǒng)運(yùn)行，有的當(dāng)時(shí)就會(huì)發(fā)生事故，有的雖暫時(shí)不發(fā)生事故，但運(yùn)行一段時(shí)間后，也會(huì)發(fā)生事故，甚至?xí)饑?yán)重后果，如設(shè)備損壞，線路跳閘等。
為了防止電氣設(shè)備在投入運(yùn)行時(shí)或運(yùn)行中發(fā)生事故，及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備中潛伏的缺陷，必須對(duì)電氣設(shè)備運(yùn)行高壓試驗(yàn)。地質(zhì)儀器高溫/高壓試驗(yàn)?zāi)康脑谟诖_定其在高溫高壓環(huán)境中使用的適應(yīng)性及結(jié)構(gòu)密封的完好性。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榈刭|(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的高溫/高壓試驗(yàn)服務(wù)。
為了防止電氣設(shè)備在投入運(yùn)行時(shí)或運(yùn)行中發(fā)生事故，及時(shí)發(fā)現(xiàn)設(shè)備中潛伏的缺陷，必須對(duì)電氣設(shè)備運(yùn)行高壓試驗(yàn)。地質(zhì)儀器高溫/高壓試驗(yàn)?zāi)康脑谟诖_定其在高溫高壓環(huán)境中使用的適應(yīng)性及結(jié)構(gòu)密封的完好性。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榈刭|(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的高溫/高壓試驗(yàn)服務(wù)。
地質(zhì)儀器高溫高壓試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種地質(zhì)儀器產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為地質(zhì)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的高溫/高壓試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)方法
1、將受試產(chǎn)品在正常大氣條件下通過(guò)電纜與地面測(cè)量（或控制）儀器連接調(diào)試好后，放入試驗(yàn)裝置中，接通電源使產(chǎn)品處于正常工作狀態(tài)。
2、密封好試驗(yàn)裝置，檢驗(yàn)確信安全后使裝置處于受控正常工作狀態(tài)。
3、試驗(yàn)的溫度、壓力按升溫升壓階梯時(shí)序圖逐步升到規(guī)定的溫度及壓力上限。升溫速率：1～5℃/min ；升壓速率：0.1～0.5MPa/min。
4、階梯保持時(shí)間： 10min；高溫高壓上限保持時(shí)間：30min。
5、非連續(xù)測(cè)量的產(chǎn)品如允許，在升溫升壓期間可以斷電。
6、在升溫升壓前，在每個(gè)階梯保持時(shí)間內(nèi)，按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)主要技術(shù)指標(biāo)（含絕緣電阻）進(jìn)行中間測(cè)量，結(jié)果均應(yīng)符合技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
7、在上限保持時(shí)間結(jié)束后，將溫度壓力逐步降到正常條件，取出受試產(chǎn)品擦拭干凈，在正常大氣條件下恢復(fù)30min。
8、最后檢測(cè) 按受試產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，檢查受試產(chǎn)品的外觀不得有剛性變形；密封良好、保護(hù)管內(nèi)無(wú)水跡或油跡；機(jī)械性能、電氣性能檢測(cè)結(jié)果均應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
2、密封好試驗(yàn)裝置，檢驗(yàn)確信安全后使裝置處于受控正常工作狀態(tài)。
3、試驗(yàn)的溫度、壓力按升溫升壓階梯時(shí)序圖逐步升到規(guī)定的溫度及壓力上限。升溫速率：1～5℃/min ；升壓速率：0.1～0.5MPa/min。
4、階梯保持時(shí)間： 10min；高溫高壓上限保持時(shí)間：30min。
5、非連續(xù)測(cè)量的產(chǎn)品如允許，在升溫升壓期間可以斷電。
6、在升溫升壓前，在每個(gè)階梯保持時(shí)間內(nèi)，按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)主要技術(shù)指標(biāo)（含絕緣電阻）進(jìn)行中間測(cè)量，結(jié)果均應(yīng)符合技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
7、在上限保持時(shí)間結(jié)束后，將溫度壓力逐步降到正常條件，取出受試產(chǎn)品擦拭干凈，在正常大氣條件下恢復(fù)30min。
8、最后檢測(cè) 按受試產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，檢查受試產(chǎn)品的外觀不得有剛性變形；密封良好、保護(hù)管內(nèi)無(wú)水跡或油跡；機(jī)械性能、電氣性能檢測(cè)結(jié)果均應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
