半導體器件內(nèi)部易燃性試驗
健明迪檢測提供的半導體器件內(nèi)部易燃性試驗，試驗標準 GB/T4937.31半導體器件機械和氣候試驗方法第31部分：塑封器件的易燃性（內(nèi)部引起的） IEC60749-31：2003半導體器件機械和氣候試驗，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗標準
GB/T 4937.31 半導體器件機械和氣候試驗方法 第31部分：塑封器件的易燃性（內(nèi)部引起的）
IEC 60749- 31： 2003半導體器件機械和氣候試驗方法 第31部分：塑封器件的易燃性（內(nèi)部引起的）
GB/T 4937.1-2006 半導體器件機械和氣候試驗方法 第1部分：總則
IEC 60749- 31： 2003半導體器件機械和氣候試驗方法 第31部分：塑封器件的易燃性（內(nèi)部引起的）
GB/T 4937.1-2006 半導體器件機械和氣候試驗方法 第1部分：總則
試驗背景
半導體器件內(nèi)部易燃性試驗的目的是確定器件是否由于過負荷引起內(nèi)部發(fā)熱而燃燒。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種半導體器件機械和氣候試驗設備，具備內(nèi)部易燃性試驗能力，為半導體器件、設備提供專業(yè)的內(nèi)部易燃性試驗服務。
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種半導體器件機械和氣候試驗設備，具備內(nèi)部易燃性試驗能力，為半導體器件、設備提供專業(yè)的內(nèi)部易燃性試驗服務。
半導體器件內(nèi)部易燃性試驗機構
健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種半導體器件機械和氣候試驗設備，具備內(nèi)部易燃性試驗能力，為半導體器件、設備提供專業(yè)的內(nèi)部易燃性試驗服務。
試驗方式
器件應不帶散熱片在大氣中工作，并使其內(nèi)部電功率耗散從最大額定值緩慢增加，直至出現(xiàn)下列任一狀態(tài)：
a）內(nèi) 部功率達到25°C時的最大額定功耗的5倍，在這種情況下，該功率應至少保持1 min；
b）器件開路、短路或者器件的阻值上升以致不能再進--步增加功耗的程度；
c）器件燃燒。
只有器件冒煙或燃燒時，才看作器件失效。
a）內(nèi) 部功率達到25°C時的最大額定功耗的5倍，在這種情況下，該功率應至少保持1 min；
b）器件開路、短路或者器件的阻值上升以致不能再進--步增加功耗的程度；
c）器件燃燒。
只有器件冒煙或燃燒時，才看作器件失效。
