檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A.溫 GB/T 2423.1-2008

軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn) GJB 150.4A-2009

軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn) GJB 150.4-1986

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 GB/T 2423.2-2008

軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn) GJB 150.3A-2009

軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn) GJB 150.3-1986

環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T 2423.4-2008

軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn) GJB 150.9A-2009

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊 GB/T 2423.5-2019

軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第18部分：沖擊試驗(yàn) GJB 150.18A-2009程序IⅡ、程序Ⅲ

軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn) GJB 150.18-1986試驗(yàn)V

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞 GB/T 2423.6-1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc：振動(dòng)(正弦) GB/T 2423.10-2019

環(huán)境試驗(yàn)第2部份：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2018

軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分：振動(dòng)試驗(yàn) GJB 150.16A-2009程序I、Ⅳ

檢測(cè)項(xiàng)目

低溫，高溫，濕熱，沖擊，碰撞，振動(dòng)，恒定加速度，低氣壓，溫度變化，溫度-高度，熱真空，環(huán)境應(yīng)力篩選，溫度-濕度-振動(dòng)

檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日，試驗(yàn)可加急