微區(qū)形貌及成分測(cè)試
檢測(cè)流程
1、溝通檢測(cè)產(chǎn)品、項(xiàng)目、需求。
2、郵遞寄樣或者上門取樣。
3、確定報(bào)價(jià)，定制專屬方案。
4、簽訂合同和保密協(xié)議
5、開始規(guī)劃化實(shí)驗(yàn)
6、實(shí)驗(yàn)結(jié)束后，出具原始數(shù)據(jù)檢測(cè)報(bào)告。
6、郵寄檢測(cè)報(bào)告
7、增值服務(wù)
各種材料
? 服務(wù)項(xiàng)目：
表面元素和其價(jià)態(tài)定性、表面元素化學(xué)成像測(cè)試、深度剖析等
? 儀器應(yīng)用：
應(yīng)用于分析無機(jī)、有機(jī)、納米材料(特別是半導(dǎo)體、電池材料)、微電子、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)/考古、冶金、環(huán)境、人工智能等固體材料。 納米尺度下，對(duì)固體材料、生物組織或細(xì)胞進(jìn)行化學(xué)成像分析;半導(dǎo)體材料痕量雜質(zhì)分析(ppm至ppb);
薄膜樣品三維空間尺度化學(xué)成分分布及成像
? 服務(wù)項(xiàng)目：
譜圖檢測(cè)、化學(xué)成分成像、深度剖析測(cè)試、表面異物分析、表面物質(zhì)成分測(cè)試等
檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日出具檢測(cè)報(bào)告（參考周期）
檢測(cè)費(fèi)用：初檢樣品，初檢之后根據(jù)客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)。
? 樣品體系：
粉末、薄膜、塊體、不易揮發(fā)易爆或帶磁性
? 服務(wù)項(xiàng)目：
掃描電鏡SEM照片(非磁性樣品)、掃描電鏡SEM照片(弱磁性樣品)、液氮脆斷+掃描電鏡SEM照片、包埋+掃描電鏡SEM照片、SEM-EDS點(diǎn)掃、SEM-EDS面掃、SEM觀察鍍層厚度、SEM觀察顆粒尺度
? 樣品體系：
針對(duì)固體納米粉末，只能測(cè)弱磁性樣品
? 服務(wù)項(xiàng)目：
透射電鏡TEM照片(非磁性樣品)、高分辨透射電鏡(非磁性樣品)、透射電鏡TEM和高分辨透射電鏡(弱磁性樣品)、TEM-EDS點(diǎn)掃、TEM-EDS面掃
? 樣品體系：
聚合物、無機(jī)化合物、有機(jī)化合物、催化劑、涂層材料、納米材料、礦石等
實(shí)驗(yàn)室屬于科研實(shí)驗(yàn)室，提供微區(qū)形貌及成分測(cè)試服務(wù)，7-15個(gè)工作日出具檢測(cè)報(bào)告，檢測(cè)報(bào)告支持掃碼查詢真?zhèn)巍?guó)家高新技術(shù)企業(yè)，檢測(cè)資質(zhì)齊全，實(shí)驗(yàn)室儀器先進(jìn)，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大，真正的一站式檢測(cè)服務(wù)。
